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新聞資訊
08-18
2023

LB-8600推拉力測(cè)試機(jī)售后服務(wù)過(guò)程

日前,**科技(武漢)有限公司反映LB-8600推拉力測(cè)試機(jī)設(shè)備有點(diǎn)問(wèn)題,因?yàn)槭窃谑⊥?,我們的省外服?wù)時(shí)間是48小時(shí)之內(nèi),所以,售后立即提前買(mǎi)了第二天的票趕赴客戶(hù)公司維修售后。售后靳師傅到現(xiàn)場(chǎng)檢查了設(shè)備,分析是主機(jī)問(wèn)題,這一臺(tái)設(shè)備是2021年10月10日送貨,還在兩年質(zhì)保期,所以我們把主機(jī)寄回公司進(jìn)行維修,因?yàn)榭赡苁怯病?/p>

LB-8600推拉力測(cè)試機(jī)售后服務(wù)過(guò)程
08-17
2023

芯片剪切力測(cè)試儀測(cè)試方法及失效判據(jù)

芯片剪切力是指在芯片制造過(guò)程中,將芯片從晶圓上剪切下來(lái)所需要的力量。芯片剪切力的大小與芯片的材料、結(jié)構(gòu)、尺寸等因素有關(guān)。芯片剪切示意圖:測(cè)試芯片剪切力需要使用推拉力測(cè)試儀器,如下圖:設(shè)備由傳感器、夾具、機(jī)架、顯微鏡、推桿、推刀(拉鉤)等組成,在試驗(yàn)設(shè)備上安裝剪切工具和試驗(yàn)樣品,剪切工具正好在位于基板之上的位置與芯片接觸……

芯片剪切力測(cè)試儀測(cè)試方法及失效判據(jù)
08-15
2023

推力桿推拉力測(cè)試機(jī)功能用途,高精度測(cè)試

推力桿推拉力測(cè)試機(jī)是一種用于測(cè)試推力桿的推拉力的測(cè)試設(shè)備。該設(shè)備通常由一個(gè)傳感器和一個(gè)機(jī)械裝置組成,可以測(cè)量推力桿在推和拉兩種方向上的力。 測(cè)試機(jī)使用傳感器來(lái)測(cè)量力的大小,并將這些數(shù)據(jù)記錄在計(jì)算機(jī)或打印機(jī)上。測(cè)試機(jī)還可以自動(dòng)計(jì)算平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差,以及生成報(bào)告和圖表。推力桿推拉力測(cè)試機(jī)可以用于測(cè)試各種類(lèi)型的推力桿,……

推力桿推拉力測(cè)試機(jī)功能用途,高精度測(cè)試
08-11
2023

BGA矩陣整體推力測(cè)試機(jī)能進(jìn)行哪些測(cè)試和別稱(chēng)?

推力測(cè)試機(jī)適用于LED封裝、半導(dǎo)體封裝、智能卡封裝、光通信、汽車(chē)電子、太陽(yáng)能等行業(yè)進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、剪切、撕裂等力學(xué)性能試驗(yàn)。關(guān)于BGA矩陣整體推拉力試驗(yàn)機(jī),功能匯總?cè)缦拢? 1、滿足金球推力、金線張力、以及剪切力等基本測(cè)試功能; 2、機(jī)器系統(tǒng)的精度為0.25%;傳感器精度小于0.1 %; 3……

BGA矩陣整體推力測(cè)試機(jī)能進(jìn)行哪些測(cè)試和別稱(chēng)?
08-10
2023

半導(dǎo)體封裝用多功能推拉力測(cè)試機(jī)全自動(dòng)化操作

在半導(dǎo)體產(chǎn)品小型化和多樣化的趨勢(shì)下,推拉力測(cè)試評(píng)估已經(jīng)全面而迅速地關(guān)注半導(dǎo)體封裝行業(yè)。主要包括:球柵陣列(BGA)、倒裝芯片(FC)和引線框(LF)三種封裝技術(shù)的推拉力。半導(dǎo)體后端行業(yè)應(yīng)在不影響產(chǎn)品功能的情況下逐步用銅線取代金線,并在滿足客戶(hù)需求的同時(shí)推廣低沖擊封裝技術(shù)。IC封裝是半導(dǎo)體行業(yè)中用于使芯片成功運(yùn)行的核心工……

半導(dǎo)體封裝用多功能推拉力測(cè)試機(jī)全自動(dòng)化操作
08-08
2023

焊球類(lèi)芯片剝離力功能原理和測(cè)試功能

焊球類(lèi)芯片剝離力功能原理: 將焊料球從基板材上拔除,以測(cè)量芯片焊球和基板之間的附著力,評(píng)估焊球能夠承受機(jī)械剪切的能力,可能是元器件在制造、處理、檢驗(yàn)、運(yùn)輸和最終使用的作用力。是測(cè)試膠水、焊料和燒結(jié)銀結(jié)合區(qū)域的理想方法。 焊球剪切力測(cè)試,也稱(chēng)鍵合點(diǎn)強(qiáng)度測(cè)試。根據(jù)所測(cè)試的焊球/芯片,選用剛硬精密的推刀夾具,通過(guò)……

焊球類(lèi)芯片剝離力功能原理和測(cè)試功能
08-07
2023

PCB的推拉力測(cè)試及相應(yīng)的焊線推拉力測(cè)試機(jī)原理

在PCBA焊接過(guò)程中,會(huì)發(fā)生元器件掉落的事情,為分析元器件掉落的原因,就非常有必要對(duì)PCBA焊接的強(qiáng)度進(jìn)行分析,元器件的推拉力如何?本文博森源電子就為大家介紹PCB的推拉力測(cè)試及相應(yīng)的焊線推拉力測(cè)試機(jī)原理。 PCB推力測(cè)試是指在PCB板上進(jìn)行力的測(cè)試,以確定其在運(yùn)行時(shí)是否能承受相應(yīng)的力。這種測(cè)試通常用于航空航天、……

PCB的推拉力測(cè)試及相應(yīng)的焊線推拉力測(cè)試機(jī)原理
08-04
2023

鍵合推拉力試驗(yàn)機(jī),200kg的模塊推樣品的差異測(cè)試

最近客戶(hù)要買(mǎi)一臺(tái)新的鍵合推拉力試驗(yàn)機(jī)設(shè)備,就是最大能200kg的那臺(tái)(LB-8600),但是有提出需要給出測(cè)試數(shù)據(jù)包括:100kg模塊,200kg模塊的標(biāo)準(zhǔn)件測(cè)試結(jié)果,需測(cè)50次看穩(wěn)定率和一致性。所以我們立刻安排工程去測(cè)試,我們一直都是提供樣機(jī)免費(fèi)給測(cè)樣的。同時(shí)客戶(hù)還需要確認(rèn)200kg的模塊,推小的樣品,顯示精度與20……

鍵合推拉力試驗(yàn)機(jī),200kg的模塊推樣品的差異測(cè)試
07-31
2023

博森源推拉力測(cè)試機(jī)的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)通過(guò)質(zhì)量管理體系認(rèn)證

博森源電子于2023年年初起開(kāi)始推行ISO9001質(zhì)量管理體系認(rèn)證工作,并在同年7月份一次性通過(guò)ISO9001質(zhì)量管理體系認(rèn)證。同一時(shí)期,公司成立質(zhì)監(jiān)部,全面負(fù)責(zé)貫標(biāo)工作并將其作為往后的重點(diǎn)工作之一。在質(zhì)監(jiān)部的指導(dǎo)下,各部門(mén)高效完成規(guī)章制度編寫(xiě),員工培訓(xùn)。公司高度重視貫標(biāo)工作,高質(zhì)量完成內(nèi)部審查和管理評(píng)審,在這兩次評(píng)審……

博森源推拉力測(cè)試機(jī)的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)通過(guò)質(zhì)量管理體系認(rèn)證
07-28
2023

推拉力測(cè)試(焊接強(qiáng)度測(cè)試儀)特色應(yīng)用有哪些?

推拉力測(cè)試是一種工程測(cè)試方法,用于評(píng)估材料、構(gòu)件或系統(tǒng)在受到推力或拉力作用下的性能和可靠性。這種測(cè)試廣泛應(yīng)用于許多行業(yè),包括航空航天、汽車(chē)、建筑和制造業(yè)等。 無(wú)論是在半導(dǎo)體行業(yè),還是汽車(chē)、電力、合成等微電子行業(yè),或高可靠性行業(yè),博森源推拉力測(cè)試機(jī)以多種功能及精準(zhǔn)性為用戶(hù)提供高質(zhì)量的保證。它擁有焊接測(cè)試最新技術(shù)專(zhuān)利……

推拉力測(cè)試(焊接強(qiáng)度測(cè)試儀)特色應(yīng)用有哪些?
07-25
2023

PCB板的金線拉力測(cè)試及測(cè)試設(shè)備推拉力機(jī)介紹

測(cè)試PCB板的金線拉力 金線拉力,簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是連接PCB板上的電子元件與內(nèi)層導(dǎo)體的金屬線之間的拉力。在PCB板的生產(chǎn)過(guò)程中,這些金屬線被沉積在電路圖形上,然后通過(guò)化學(xué)蝕刻的方法形成電路。金線拉力,正是在這個(gè)過(guò)程中產(chǎn)生的。 評(píng)估金線拉力的標(biāo)準(zhǔn)主要包括拉力測(cè)試和剖面分析。拉力測(cè)試是通過(guò)測(cè)量金屬線的斷裂強(qiáng)度來(lái)評(píng)……

PCB板的金線拉力測(cè)試及測(cè)試設(shè)備推拉力機(jī)介紹
07-22
2023

博森源推薦半導(dǎo)體芯片測(cè)試設(shè)備之一-推拉力測(cè)試機(jī)

半導(dǎo)體芯片測(cè)試是半導(dǎo)體制造過(guò)程中非常重要的一環(huán)。芯片測(cè)試流程:芯片測(cè)試一般分為兩個(gè)階段,一個(gè)是CP(Chip Probing)測(cè)試,也就是晶圓(Wafer)測(cè)試;另一個(gè)是FT(Final Test)測(cè)試,也就是把芯片封裝好后進(jìn)行的測(cè)試。 抽樣測(cè)試和生產(chǎn)全測(cè):對(duì)于芯片來(lái)說(shuō),有兩種類(lèi)型的測(cè)試,抽樣測(cè)試和生產(chǎn)全測(cè)。抽樣……

博森源推薦半導(dǎo)體芯片測(cè)試設(shè)備之一-推拉力測(cè)試機(jī)
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