推拉力測(cè)試是一項(xiàng)衡量器件的固定強(qiáng)度、鍵合能力等不可缺少的動(dòng)態(tài)力學(xué)檢測(cè),推拉力試驗(yàn)機(jī)不僅可擴(kuò)張性強(qiáng),而且測(cè)試數(shù)值高效精確。
如可進(jìn)行不同速率和推刀高度下焊點(diǎn)強(qiáng)度比較,通過(guò)恒速運(yùn)動(dòng)可檢測(cè)材料的強(qiáng)度和焊點(diǎn)的可靠性。
通過(guò)我們的推拉力測(cè)試系統(tǒng),能夠?qū)y(cè)試樣件施加一個(gè)精準(zhǔn)的機(jī)械應(yīng)力,試驗(yàn)過(guò)程中,速度,行程和上限值等因素均可控,可調(diào);
可根據(jù)需要測(cè)試的力的大小,樣件的變形程度及力的極限值來(lái)設(shè)置和加載。典型的測(cè)試類型,拉伸、壓力和彎曲測(cè)試都可根據(jù)各種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行區(qū)分。
配套相應(yīng)的工裝夾具,搭配我們的測(cè)試設(shè)備可實(shí)現(xiàn)以下試驗(yàn):
1.靜態(tài)和動(dòng)態(tài)拉伸測(cè)試
2.靜態(tài)和動(dòng)態(tài)壓力測(cè)試
3.彎曲測(cè)試
半導(dǎo)體推拉力測(cè)試是對(duì)半導(dǎo)體器件引線的強(qiáng)度和可靠性進(jìn)行評(píng)估的重要測(cè)試之一。以下是半導(dǎo)體推拉力測(cè)試的一般需求:
1.測(cè)試設(shè)備:需要使用專用的測(cè)試設(shè)備,如引線拉力測(cè)試機(jī),能夠施加精確的力量并測(cè)量引線的拉伸或推壓力。
2.測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):需要根據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范進(jìn)行測(cè)試,例如GJB 548B-2005。
3.測(cè)試樣品準(zhǔn)備:需要準(zhǔn)備好要進(jìn)行測(cè)試的半導(dǎo)體器件樣品。樣品應(yīng)該是符合規(guī)范要求的,且引線連接完好。
4.測(cè)試參數(shù)設(shè)置:根據(jù)測(cè)試要求,設(shè)置測(cè)試設(shè)備的參數(shù),如施加的力量、測(cè)試速度等。
5.測(cè)試過(guò)程:將樣品放置在測(cè)試設(shè)備上,并施加拉伸或推壓力量,記錄下測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù),如施加的力量、引線的變形情況等。
6.數(shù)據(jù)分析:根據(jù)測(cè)試結(jié)果,對(duì)引線的強(qiáng)度和可靠性進(jìn)行分析和評(píng)估??梢员容^不同樣品或不同測(cè)試條件下的結(jié)果,以確定引線的質(zhì)量和可靠性。
7.結(jié)果報(bào)告:根據(jù)測(cè)試結(jié)果,生成測(cè)試報(bào)告,包括測(cè)試方法、參數(shù)、測(cè)試結(jié)果和分析等信息。
以上是半導(dǎo)體推拉力測(cè)試的一般需求,具體的測(cè)試要求可能會(huì)根據(jù)不同的應(yīng)用領(lǐng)域和標(biāo)準(zhǔn)而有所差異。在進(jìn)行測(cè)試時(shí),應(yīng)嚴(yán)格按照相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行操作,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
推拉力檢測(cè)時(shí)的失效類別有哪些?
1.頸縮點(diǎn)處引線斷開(kāi):由于鍵合工藝導(dǎo)致內(nèi)引線截面減小的位置,引線在該處斷開(kāi)。
2.非頸縮點(diǎn)上引線斷開(kāi):引線在非頸縮點(diǎn)的位置斷開(kāi)。
3.芯片上的鍵合失效:指引線和芯片金屬化層之間的界面失效。
4.基板上的鍵合失效:指引線和基板之間的鍵合失效。
這些失效類別是根據(jù)GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》方法進(jìn)行分類的。在推拉力檢測(cè)過(guò)程中,如果出現(xiàn)以上失效情況,需要及時(shí)進(jìn)行修復(fù)或更換引線,以確保器件的正常工作。