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新聞資訊

芯片推拉力測試的推刀厚度和推拉力測試儀公式的標準

發(fā)布時間:2023-11-25         文章來源:

經常有客戶問到:Ball shear的推刀厚度是多少?今天周六,給大家總結一下。

推刀厚度是有幾個常規(guī)尺寸,具體選擇而是按你要推的那個球的高度來定的,我們的標準是二分之一球高 博森源 推拉力測試儀所用的BALL SHEAR的推刀,面對金球的一面是倒梯形,側面是楔形的,厚度最薄處可能是0.5MM,這個要看具體型號。 選擇推刀時主要看面寬和接口直徑兩個參數;根據被測金球的直徑,選擇面寬大于金球直徑的推刀;根據所接測試頭的型號選擇合適的接口直徑。
推刀厚度

Ball shear:剪切力度

一般用于半導體封裝流程的前段,其為監(jiān)控生產能力與穩(wěn)定性的重要標準之一。輔助[敏感詞]的拉線測試,用于判定鍵合力度。那么如何計算?

芯片推拉力測試公式的標準是使用以牛頓(N)為單位,推拉力的公式可以表示為:

F=m*a

其中,F表示力(單位:牛頓),m表示質量(單位:千克),A表示加速度(單位為米/秒^2)。

在進行芯片推拉力測試時,需要測量芯片的質量,并施加一個確定的加速度,然后使用上述公式計算推拉力。

除了這個基本公式外,它還可以根據具體情況進行擴展。實例例如,如果芯片上的推力和拉力是可變的,則需要考慮加速度的變化,并利用積分求解推力。此外,如果芯片受到超過其材料的推力和拉力承載力需要考慮彈性變形和材料強度等因素。

總之,芯片推拉力測試的標準公式基于牛頓定律,可以根據具體情況應用展開并調整和拓展。
芯片推拉力測試

推拉力測試儀又名焊接強度測試儀,是我們的機械測試解決方案。它們要么是破壞性的,要么是非破壞性的,配備了用于基準對準和故障檢查的視覺系統(tǒng)。我們的產品組合包括用于高/低產量或高/低混合產品的手動和自動測試儀。
芯片推拉力測試儀LB-8600-1.jpg

我們是全球領先的自動測力檢測設備供應商。我們堅持自主創(chuàng)新,不斷優(yōu)化產品核心技術,為市場帶來強大、經濟高效的產量提高解決方案。我們最先進的自動化、高精度和性能穩(wěn)定的檢測系統(tǒng)為客戶提供值得信賴的快速、準確的檢測。我們持續(xù)的使命是提供業(yè)界最先進的推拉力解決方案,同時提供卓越的客戶服務和支持。我們的非標定制解決方案非常適合滿足客戶的獨特需求。我們致力于提升優(yōu)質測力解決方案,并不斷追求卓越的客戶服務。

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