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新聞資訊

半導體推力測試儀在半導體芯片封裝領(lǐng)域的應用案例

發(fā)布時間:2023-12-18         文章來源:

半導體推力測試儀亦可稱之為大面積推拉力試驗機,可進行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、撕裂、剪切、刺破、壓陷硬度、低周疲勞等各項物理力學試驗。還能自動求取大試驗力、斷裂力、屈服HRb、抗拉強度、彎曲強度,彈性模量、伸長率、定伸長應力、定應力伸長、定應壓縮等,故廣泛應用于半導體封裝、LED封裝、智慧卡封裝、通訊電子、汽車電子產(chǎn)業(yè)及各類研究所、大專院校、電子電路失分析與測試等領(lǐng)域。

半導體推力測試機通過各種夾具的配合完成抗拉、彎曲、壓縮等多種力學檢測。夾具是推拉力測試機中重要的一個零件。通過夾具夾持試樣對試樣進行加力,夾具所能承受的試驗力的大小是夾具的一個很重要的指標。它決定了夾具結(jié)構(gòu)的大小及夾具操作的勞動強度的大小。推拉力測試機之所以能做各種試驗其重點在于夾具的選擇。

半導體推拉力試驗機有哪些特征?

1、智能數(shù)字技術(shù):優(yōu)化了測試模塊,適應不同類型測試環(huán)境的能力,保證了同一測試模塊在不同主機上工作地測試數(shù)據(jù)得可靠性、以及一致性。

2、量程技術(shù):設(shè)備所有測試傳感器,均采用自動量程設(shè)計,全量程分辨率一致,客戶不用在測試之前對軟件進行復雜耗時地擋位設(shè)置。

3、實心機身設(shè)計,機身測試載重量高達500kg。

4、設(shè)備操控性能,全方位地保護措施,可放置得左右搖桿控制器,操作舒適得搖桿控制器。 
半導體推拉力測試機 (3).jpg

●推力測試:
手動:通過左右搖桿將測試頭移動至所測試產(chǎn)品后上方,按測試后,Z軸自動向下移動,當測試針頭觸至測試基板表面后,Z向觸信號啟動,停止下降,Z軸向上升至設(shè)定的剪切高度后停止。Y軸按軟件設(shè)定參數(shù)移動,在移動過程中Y軸以一段快速運行,當Y軸在移動過程中感應到設(shè)定觸發(fā)力值時(即開始測試產(chǎn)品),速度會自動調(diào)整為二段慢速測試,以保證測試資料的穩(wěn)定性。

自動:輸入測試坐標可自動測試:

●拉力測試:
手動: 通過左右搖桿將拉針移動至線弧中間,按測試后,Z軸自動向上移動,當拉針觸至設(shè)定觸發(fā)力值時(即開始測試產(chǎn)品),速度會自動調(diào)整為二段慢速測試,以保證測試資料的穩(wěn)定性。

自動:輸入測試坐標可自動測試:

●測試功能:測試工位元軟件選擇后,設(shè)備自動旋轉(zhuǎn)至需要測試工位元,無需手動更換測試模塊。
半導體推力測試儀.jpg

多功能全自動推拉力測試機是一種用于測試半導體芯片封裝的設(shè)備。它具有以下特點:

1. 多模組設(shè)計:該測試機可以容納多個多模組,可以同時測試多個芯片封裝。這樣可以提高測試效率,并減少測試時間。

2. 自動切換模組:測試機具有自動切換模組功能,可以快速切換不同的模組進行測試,節(jié)省了手動更換模組的時間,提高了測試效率。

3. 更好的設(shè)計:測試機采用了先進的設(shè)計理念,具有更好的結(jié)構(gòu)和材料,使其更加穩(wěn)定和耐用。同時,它還采用了先進的控制系統(tǒng)和算法,能夠精確地控制測試過程,提高測試精度。

4. 全方位保護:測試機配備了全方位的安全保護裝置,包括過載保護、短路保護、溫度保護等。這些保護措施可以有效避免因測試過程中的異常情況而對設(shè)備和樣品造成損壞。



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