推拉力測(cè)試儀出廠檢驗(yàn)報(bào)告說明：

1，測(cè)試報(bào)告表頭說明：申請(qǐng)部門，報(bào)告編號(hào)，申請(qǐng)人，報(bào)告頁次，樣品名稱，報(bào)告日期，樣品料號(hào)，樣品數(shù)量，標(biāo)距，測(cè)試速度。

2，測(cè)試報(bào)告結(jié)果說明：序號(hào)，寬度，厚度，截面積，最大力，抗拉強(qiáng)度，延伸率。

3，測(cè)試數(shù)據(jù)多組平均值。

4，測(cè)試結(jié)果曲線圖，位移與力值曲線圖。

5，表尾說明：批注，審核。

推拉力測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、光通訊器材件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測(cè)試、研究所材料力學(xué)研究、材料可靠性測(cè)試等應(yīng)用領(lǐng)域，是Bond、SMT、鍵合等的動(dòng)態(tài)力學(xué)檢測(cè)儀器。能滿足包含有：金屬、銅線、合金線、鋁線、鋁帶等拉力測(cè)試、金球、銅球、錫球、晶圓、芯片、貼片元件等推力測(cè)試、錫球、BumpPin等拉拔測(cè)試等等具體應(yīng)用需求，功能可擴(kuò)張性強(qiáng)、操控便捷、測(cè)試高效準(zhǔn)確。相比傳統(tǒng)的拉壓力測(cè)試，此種測(cè)試因?yàn)楫a(chǎn)品細(xì)小，布局密度高，對(duì)拉壓力試驗(yàn)機(jī)要求高，需要帶顯微放大，測(cè)試探針夾具精細(xì)，才能適合這種測(cè)試要求。在市場(chǎng)上有諸多名稱：三軸微小推拉力試驗(yàn)機(jī)，芯片微焊點(diǎn)試驗(yàn)機(jī)，三軸剪切力測(cè)試儀。

推拉力測(cè)試有哪些作用?

1、改善產(chǎn)品質(zhì)量使用。(通過檢測(cè)報(bào)告數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)自身產(chǎn)品問題所在，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低生產(chǎn)成本)

2、產(chǎn)品質(zhì)控使用，為產(chǎn)品性能下降找原因。

3、產(chǎn)品科研論文數(shù)據(jù)使用。

4、產(chǎn)品原因分析使用。

5、產(chǎn)品性能測(cè)試使用。

6、產(chǎn)品銷售及投標(biāo)/競(jìng)標(biāo)使用。

推力測(cè)試儀及推力測(cè)試方法？
包括：套管，套管內(nèi)部為中空，套管的一端設(shè)有與內(nèi)部連通的開口；彈性組件設(shè)置在頂針套內(nèi)；測(cè)試頂針可沿頂針套的軸向往復(fù)運(yùn)動(dòng)，并可移動(dòng)地設(shè)置在頂針套內(nèi)，測(cè)試頂針具有位于頂針套內(nèi)且可抵靠彈性組件的一端，以及相對(duì)設(shè)置并延伸出頂針套的另一端。測(cè)試頂針的一端擠(壓)壓縮彈性元件當(dāng)測(cè)試頂針的另一端推動(dòng)被測(cè)裝置時(shí)，使測(cè)試頂針的另一端部分或全部縮入頂針套內(nèi)，從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)裝置的推力測(cè)試。當(dāng)測(cè)試頂針推動(dòng)被測(cè)器件時(shí)，測(cè)試頂針的另一端壓住彈性元件，彈性元件的彈性與測(cè)試頭對(duì)被測(cè)器件的推力相同。當(dāng)彈性元件的彈性達(dá)到被測(cè)裝置的推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可以判斷被測(cè)裝置的推力合格，從而避免被測(cè)裝置報(bào)廢，節(jié)約檢測(cè)成本。